和记娱乐

和记娱乐可测试性工具团队，致力于研发与集成完天下产化的测试设计EDA组合从而打造功效强劲、性能可靠的天下产化测试设计流程。现在包括自动向量天生工具GoATPG、存储器内建自测测试GoMBIST和扫描压缩设计插入工具GoScanCompress等自研设计工具的实现已具雏形。同时，依托和记娱乐强盛的DFT设计效劳团队，相互支持，实现工具开发、设计效劳双轮驱动以优化工具的整体性能。

GoATPG：自动测试矢量天生工具（Automatic Test Pattern Generation, ATPG）

ATPG的主要功效是在设计历程中，凭证特定的DFT电路结构爆发对应的测试矢量和预期响应，针对特定故障盘算测试矢量集的故障笼罩率并通过仿真历程举行验证。芯片制造完成后的测试阶段，在ATE测试机台上向芯片输入测试矢量，同时ATE机台捕获芯片的输出响应，并与ATPG工具爆发的预期响应举行比对。

性能特点

• 支持组合逻辑门级和时序逻辑门级网表剖析；

• 支持客户Blackbox自界说、网表Flattening；

• 支持和记娱乐自研标准PPF（Pattern Procedure File）读取，爆发息争析；

• 支持工业标准的向量名堂：STIL和WGL文件的测试向量读入并剖析，以及写出到对应模式的文件；

• 支持对STIL或WGL外部输入测试向量举行单牢靠型故障的仿真并获得响应的测试笼罩率；

• 支持测试向量相融压缩、仿真压缩以及硬件压缩识别；

• 自界说全系统故障分类：DT类型（包括DS, DI）、PT和PU类型、UD类型（TI,  BL, RE, UU）、ND类型（UC, UO）以及AU类型的故障分组及故障列表输出；

• 支持>=8 线程运行测试向量爆发及运行故障仿真；

• 支持目今所有主流工艺的库。

  
  

  GoMBIST：存储器内建自测试（Memory Built-in Self Testing, MBIST）

  MBIST是DFT设计中专用于芯片内存储单位测试的
  ？。下一代MBIST先进架构的热门研究偏向是起劲实现存储器测试算法的“原子化”，以顺应先进工艺制造条件下重大多变的算法需求。

  和记娱乐DFT工具团队自主立异，开发出一整套无邪高效的MBIST系统架构，并拥有自力完整的相关知识产权。该架构基于算法原子化的头脑，重新妄想整个测试流程，将其拆解为具有普遍算法顺应性的算法、地点、数据三循环及一个基础读写操作序列。通过创立性地在控制器和外围单位中划分自力实现差别操作循环，将算法历程和详细的数据、地点天生历程进一步解耦，实现了较为彻底的算法原子化。同时，该架构完全切合IEEE 1687测试协议划定的测试结构，用户可实现无感切换，并且还支持诸如字间数据循环、自界说地点循环方法等一系列MBIST先进特征。

  性能特点

• 自主立异，具备完全知识产权；

• 实现了算法原子化，具有普遍的算法顺应性；

• 完全支持IEEE 1687测试协议；

• 支持用户自界说测试算法；

• 支持字间数据循环测试；

• 支持用户自界说地点循环方法；

• 支持用户自界说测试地点规模；

• 支持测试时功耗域控制，知足低功耗测试需求；

• 支持多样的测试算法荟萃。

  
  

  GoScanCompress扫描压缩硬件插入

  扫描测试压缩测试指的是对扫描链输入输出引脚压缩，镌汰芯片面积，降低测试本钱，并且在此基础上不可影响测试性能，不可降低测试笼罩率。

  性能特点

• 测试向量压缩在不影响故障笼罩率的情形下，最洪流平上，对输入输出引脚上能够将多个引脚压缩成一个通道；

• 硬件压缩手艺可有用镌汰用于测试的引脚，从而增添全芯片设计的无邪性。

  
  

  和记娱乐可测试性工具

  焦点竞争力：团结自主研发测试设计效劳流程一直推进工具的优化。

  主要优势

• 具备完全自主知识产权的可测性系统架构；

• 国际通用，切合IEEE标准的JTAG测试接入端口；

• 先进算法加持实现高故障笼罩率；

• 完全兼容现有DFT设计流程，以及ATE机台测试标准；

• 实现高效的并行盘算。