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大型中高端工业芯片需要高效周全的测试来包管高质量的芯片产品
，特殊是高端的车规芯片更是需要零瑕疵的电子元器件
，相同的要求同样应用在其它生命攸关的产品中
。为抵达这样高端的要求
，测试设计被DFT工程师引入到芯片设计中
，从而可以爆发响应的测试向量来高效地测试芯片
。